spinner logo

روش های شناسایی و آنالیز مواد


روش های شناسایی و آنالیز مواد

قیمت : 239,000 227,050 تومان

جزئیات پک

توضیحات

مولف:دکتر مسعود نتاج

تعداد

فصل اول: آشنایی با پرتو ایکس

فصل دوم: پراش پرتو ایکس (XRD)

فصل سوم: شدت باریکه‌های پراشیده

فصل چهارم: فلورسانس پرتو ایکس (XRF)

فصل پنجم: طیف‌سنجی فوتو الکترون پرتو ایکس (XPS)

فصل ششم: طیف‌سنجی الکترون اوژه (AES)

فصل هفتم: طیف¬سنجی جرمی یون ثانویه (SIMS)

فصل هشتم: میکروسکوپ نوری (OM)

فصل نهم: میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM)

فصل دهم: میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM)

فصل یازدهم: ميكروسكوپ روبشي تونلي (STM)

فصل دوازدهم: میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM)

فصل سیزدهم: میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM)

فصل چهاردهم: میکروسکوپ میدان یونی (FIM)

فصل پانزدهم: طیف‌سنجی برگشتی رادرفورد (RBS)

فصل شانزدهم: روش‌های طیف‌سنجی نوری

فصل هفدهم: آنالیز حرارتی

فصل هجدهم: سؤالات چهارگزینه¬ای

فصل نوزدهم: پاسخنامه تشریحی

منابع

whatsapp logo instagram logo